攝像頭老化箱|溫控試驗箱技術(shù)指標
1、溫度范圍:-40℃~150 ℃ (風(fēng)冷式) （更多溫度范圍可以咨詢廠家業(yè)務(wù)員）      2、濕度范圍:20 %～98 % RH（相對溫濕度圖請參考報價方案）
3、降溫速率:RT+10℃～-40 ℃ 約60 min (非線性空載下降溫約1℃/min)
4、升溫速率:RT+10℃～+150 ℃約30min(非線性空載下升溫約3℃/min)
5、溫度穩(wěn)定度:±0.5℃
6、濕度穩(wěn)定度:±2.5%RH
7、溫度偏差: ±2.0℃
8、濕度偏差: ±2.5%RH
9、內(nèi)尺寸500 *600 *500mm (W* H *D)            
10、外尺寸（約）1080 *1470 *110mm ( W*H*D )
愛佩攝像頭老化箱|溫控試驗箱滿足
GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗；
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備；
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；
GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備；
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；
GB/T 2423.3-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法；
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán))；
GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》
控溫系統(tǒng)
☆溫度控制儀表采用觸摸屏，可編程微電腦PID控制SSR輸出運行，超大液晶彩色觸摸屏幕畫面，熒幕操作簡單，程式編輯容易，可連接電腦操作；
☆度：0.1℃(顯示范圍)；解析度：±0.1℃；
☆感溫傳感器：PT100鉑金電阻測溫體；
☆控制方式：熱平衡調(diào)溫調(diào)濕方式；
☆具有自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為穩(wěn)定；
☆控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實時運轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示；
☆具有100組程式、每組100段、每段可循環(huán)999步驟的容量，每段時間設(shè)定zui大值為99小時59分；
☆資料及試驗條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機；
☆具有RS-232或RS-485遠程通訊界面，可在電腦上設(shè)計程式，監(jiān)視試驗過程并執(zhí)行自動開關(guān)機等功能。